纪小丽女，硕导，副教授 个人简历：1993年任中国科学技术大学讲师。1994年赴日本筑波大学留学，1998年获工学博士学位。先后在日本筑波大学、京都大学、日本JVC公司等机构从事物理材料和器件方面研究工作。2009年回国任南京大学电子学院副教授，主持科研项目多项，并参加973和国家重大科学研究计划等项目。在Applied physics letter, Journal of Applied Physics 等学术期刊上多次发表论文。欢迎本科生，研究生加入本科研团队。 研究方向：1）纳米CMOS器件的可靠性物理2）红外光探测器的器件物理3) 太赫兹成像芯片。 主要课程：集成电路可靠性和失效分析（本科生）；信息电子学前沿实验 (本科生)；集成电路工艺、器件及表征（研究生） 代表成果：1.Xiaoli Ji , Baiqing Liu, Hengjing Tang, Xuelin Yang, Xue Li, HaiMei Gong, Bo Shen, Ping Han and Feng Yan. AIP Advance 4,087135 (2014)2.Xiaoli Ji, Chunbo Wu, Yue Xu，Feng Yan； Microelectronics Reliability 54,119 (2014).3.Xiaoli Ji, Baiqing Liu, Yue Xu, Hengjing Tang, Xue Li, HaiMei Gong, Bo Shen, Xuelin Yang, Ping Han, and Feng Yan ―Journal of Applied Physics 114, 224502 (2013).4.Xiaoli Ji, Yiming Liao, Feng Yan, Chenxin Zhu, Yi Shi,Journal of Applied Physics 112,104514 (2012).5.Xiaoli Ji， YiMing Liao, Feng Yan, Shi Yi, Guan Zhang and Qiang Guo ,Chinese Physics Letters, 28,107302（2011）.6.Xiaoli Ji, Yimin Liao, Chenxin Zhu, Jianguang Chang, Feng Yan, Yi Shi;IEEE International Reliability Physics Symposium 1(2013).7.Xiaoli Ji, Yimin Liao,Feng Yan ,Yi Shi，Guang Zhang and Qiang Guo ；IEEE International Reliability Physics Symposium 5（2012）.