Author:
Shibata N.,Kanda K.,Shimizu T.,Nakai J.,Nagao O.,Kobayashi N.,Miakashi M.,Nagadomi Y.,Nakano T.,Kawabe T.,Shibuya T.,Sako M.,Yanagidaira K.,Hashimoto T.,Date H.,Sato M.,Nakagawa T.,Takamoto H.,Musha J.,Minamoto T.,Uda M.,Nakamura D.,Sakurai K.,Yamashita T.,Zhou J.,Tachibana R.,Takagiwa T.,Sugimoto T.,Ogawa M.,Ochi Y.,Kawaguchi K.,Kojima M.,Ogawa T.,Hashiguchi T.,Fukuda R.,Masuda M.,Kawakami K.,Someya T.,Kajitani Y.,Matsumoto Y.,Morozumi N.,Sato J.,Raghunathan N.,Koh Y. L.,Chen S.,Lee J.,Nasu H.,Sugawara H.,Hosono K.,Hisada T.,Kaneko T.,Nakamura H.