New Cu “Bulge-Out” Mechanism Supporting SubMicron Scaling of Hybrid Wafer-to-Wafer Bonding

Author:

De Messemaeker Joke1,Witters Liesbeth1,Zhang Boyao1,Tsau Yan Wen1,Fodor Ferenc1,De Vos Joeri1,Beyer Gerald1,Croes Kristof1,Beyne Eric1

Affiliation:

1. imec,Leuven,Belgium

Publisher

IEEE

Reference9 articles.

1. The Influence of Cu Microstructure on Thermal Budget in Hybrid Bonding

2. Thermomechanical aspects of wafer-to-wafer copper-dielectric hybrid bonding for 3D integrated circuits;orkut okudur;Wafer Bonding Conference,2017

3. Simulation of Cu pad expansion in wafer-to-wafer Cu/SiCN hybrid bonding

4. Optimization of Cu/SiCN CMP process for surface preparation targeting W2W hybrid bonding;dewilde;Wafer Bond,2022

5. 3D SoC integration, beyond 2.5D chiplets

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