1. Mitard J. De Jaeger B. Leys F. Hellings G. Martens K. Eneman G. Brunco D. Loo R. Shamiryan D. Vandeweyer T. Winderickx G. Vrancken E. De Meyer K. Caymax M. Pantisano L. Meuris M. Heyns M. , IEEE Int. Electron Dev. Meeting (IEDM), Tech. Dig., p. 873 (2008).
2. Witters L. Mitard J. Loo R. Eneman G. Mertens H. Brunco D. Lee S. Waldron N. Hikavyy A. Favia P. Milenin A. Shimura Y. Vrancken C. Bender H. Horiguchi N. Barla K. Thean A. Collaert N. , IEEE Int. Electron Dev. Meeting (IEDM). Tech. Dig., p. 534 (2013).
3. Duriez B. Vellianitis G. van Dal M. J. H. Doornbos G. Oxland R. Bhuwalka K. K. Holland M. Chang Y. S. Hsieh C. H. Yin K. M. See Y. C. Passlack M. Diaz C. H. IEEE Int. Electron Dev. Meeting (IEDM). Tech. Dig., p. 522 (2013).
4. Arimura H. Sioncke S. Cott D. Mitard J. Conard T. Vanherle W. Loo R. Favia P. Bender H. Meersschaut J. Witters L. Mertens H. Franco J. Ragnarsson L. Pourtois G. Heyns M. Mocuta A. Collaert N. Thean A. , IEEE Int. Electron Dev. Meeting (IEDM). Tech. Dig., p. 588 (2015).
5. Waldron N. Sioncke S. Franco J. Nyns L. Vais A. Zhou D. Lin D. Boccardi G. Sebaai F. Xie Q. Givens M. Tang F. Jiang X. Chiu E. Opdebeeck A. Merckling C. Maes J. van Dorp D. Teugels L. Sibaja-Hernandez A. De Meyer K. Barla K. Collaert N. Thean A. , IEEE Int. Electron Dev. Meeting (IEDM). Tech. Dig., p. 799 (2015).