Author:
Lange M.,Reimer L.,Tollkamp C.
Subject
Histology,Pathology and Forensic Medicine
Reference20 articles.
1. Energy dispersive X-ray microanalysis of tilted specimens;Einck;Electron Microscopy,1980
2. Rückstreukoeffizient und Sekundärelektronen-Ausbeute und Beziehungen zur Raster-Elektronenmikroskopie;Drescher;Z. angew. Phys.,1970
3. Channelling contrast on metal surfaces after ion beam etching;Hoffmann;Scanning,1981
4. Zur Rückstreuung von Elektronen im Energiebereich von 10 bis 100 keV;Kanter;Ann. Physik,1957
Cited by
27 articles.
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