Topographic and material contrast in low-voltage scanning electron microscopy

Author:

Hejna J.

Publisher

Wiley

Subject

Instrumentation,Atomic and Molecular Physics, and Optics

Reference35 articles.

1. Angular distribution of secondary electrons for an effective emitter consisting of an MgO film on a CuAlMg alloy base;Alekseev;Sov Phys Sol State,1962

2. Coefficient de retrodiffusion dans le cas d' électrons monocinétiques arrivant sur la cible sous une incidence oblique;Arnal;Compt Rend Acad Sci (Paris),1969

3. Detectors for low voltage scanning electron microscopy;Autrata;Scanning,1991

4. The measurement of atomic number and composition in an SEM using backscattered detectors;Ball;J Microsc,1981

5. Der Informationsgehalt des Rückstreubildes im Rasterelektronenmikroskop;Blaschke;BEDO,1974

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