Progress in determining of compound composition by BSE imaging in a SEM and the relevant detector disadvantages

Author:

Dyukov Valentin G.,Nepijko Sergej A.

Publisher

Elsevier

Reference27 articles.

1. Backscattering coefficients for low energy electrons;Assa'd;Scanning Microscopy,1998

2. Single-crystal aluminates – a new generation of scintillators for scanning electron microscopes and transparent screens in electron optical devices;Autrata,1983

3. Caractéristiques des multiplicateurs d'électrons sans fenêtre; Utilisation en fusée comme détecteurs d'électrons auroraux de faible énergie;Bosqued;Nuclear Instruments and Methods,1967

4. Compositional averaging of backscatter intensities in compounds;Donovan;Microscopy and Microanalysis,2003

5. Method of quantitative analysis by mean atomic number of phases containing a light element using a scanning microscope and an image analyser;Dubus,1989

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