Thermoreflectance measurements of transient temperature upon integrated circuits: application to thermal conductivity identification

Author:

Phan T.,Dilhairel S.,Quintard V.,Claeys W.,Batsale J.C.

Publisher

Elsevier BV

Subject

General Engineering

Reference16 articles.

1. Simulation and testing of temperature distribution and resistance versus power for SWEAT and related joule-heating metal on insulator structures;Crowell,1990

2. Thermal conductivity measurement of thin film silicon dioxide;Schafft,1989

3. Thermal analysis of electromogration test structures;Schafft;EEE Trans. Electron Devices,1987

4. Thermal conductivity of thin SiO2 films;Brotzen;Thin Solid Films,1987

5. Extension de la méthode des quadripoles thermiques a l'aide de transformation intégrales-calcul du transfert ther-mique au travers d'un défaut plan bidimensionnel;Batsale;Int. J. Heat Mass Transfer,1994

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