HRXRD, AFM and optical study of damage created by swift heavy ion irradiation in GaN epitaxial layers

Author:

Sathish N.,Dhamodaran S.,Pathak A.P.,Ghanashyam Krishna M.,Khan S.A.,Avasthi D.K.,Pandey A.,Muralidharan R.,Li G.,Jagadish C.

Publisher

Elsevier BV

Subject

Instrumentation,Nuclear and High Energy Physics

Reference42 articles.

1. III–nitrides: Growth, characterization, and properties

2. Group III-nitride based hetero and quantum structures

3. Optical characterization of III-nitrides

4. S.J. Pearton, C.R. Abernathy, M.E. Overberg, G.T. Thaler, A.H. Onstine, B.P. Gila, F. Ren, B. Lou, J. Kim, Materials Today, June 2002.

5. Gallium nitride and related materials: challenges in materials processing

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