Binding state information from XPS depth profiling: capabilities and limits

Author:

Oswald S,Reiche R

Publisher

Elsevier BV

Subject

Surfaces, Coatings and Films,Condensed Matter Physics,Surfaces and Interfaces,General Physics and Astronomy,General Chemistry

Reference27 articles.

1. D. Briggs, M.P. Seah (Eds.), Practical surface analysis, in: Auger and X-ray Photoelectron Spectroscopy, Vol. 1, Wiley, Chichester, 1990.

2. Ion bombardment effects on the near-surface composition during sputter profiling

3. Sputter depth profile analysis of interfaces

4. Mechanisms and theory of physical sputtering by particle impact

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