The investigation of ion implanted layers by scanning electron microscopy

Author:

Rothemund W.,Fritzche C. R.

Publisher

Springer Science and Business Media LLC

Subject

General Materials Science,General Chemistry,General Engineering

Reference8 articles.

1. S.M. Davidson, G.R. Booker: InIon Implantation, ed. by F. H. Eisen and L.T. Chadderton (Gordon and Breach, London, New York, Paris 1971), p. 51

2. C.R. Fritzsche, W. Rothemund: Appl. Phys.7, 39 (1975)

3. S.Kimoto, H.Hashimoto, T. Kosuge, W.Hert: Microchim. Acta 471 (1965)

4. E.P. EerNisse: J. Appl. Phys.42, 480 (1971)

5. H. Seiler:Abbildung von Oberflächen (Bibliographisches Institut, Mannheim/Zürich 1968), p. 22

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