1. H. Wang, T. Sun, and Q. Yang, IEEE Trans. Comput. 46, 11 (1997).
2. S. Rusu, S. Tam, H. Muljono, D. Ayers, J. Chang, R. Varada, M. Ratta, and S. Vora, A-SSCC (2009), pp. 9–12.
3. C. Kim and L. Chang, IEEE Design & Test (2011).
4. K. Uchida, M. Saitoh, and S. Kobayashi, IEDM, 569–572 (2008).
5. T. Tezuka, E. Toyoda, S. Nakaharai, T. Irisawa, N. Hirashita, Y. Moriyama, N. Sugiyama, N. Taoka, Y. Yamashita, O. Kiso, M. Harada, T. Yamamoto, and S. Takagi, IEDM, 887–890 (2007).