1. P. Andricacos, C. Uzoh, J. Dukovich, J. Horkans, and H. Deligiani, IBM J. Res. Dev. 42, 567 (1998).
2. D. Edelstein, J. Heidenreich, R. D. Goldblatt, W. Cote, C. Uzoh, N. Lustig, P. Roper, T. McDevitt, W. Mostiff, A. Simon, A. Stamper, J. Dukovic, R. Wachnik, H. Rathonre, S. Luce, and J. Slattery, Tech. Digest IEEE International Electron Devices Meeting (IEEE), p. 773, New York (1997).
3. S. G. Pyo, Met. Mater. Int. 14, 767 (2008).
4. T. Ritzdorf, G. Wilson, P. McHugh, D. Woodruff, K. Hanson, D. Fulton, IBM J. Res. Dev., 49, 65 (2005).
5. S. G. Pyo, D. W. Lee, and S. B. Kim, Met. Mater. Int. 14, 773 (2008).