1. J. Jordan, Microwave J. 46, 3 (2003).
2. J. J. Wierer, D. A. Steigerwald, M. R. Krames, J. J. O’shea, M. J. Ludowise, G. Christenson, Y. C. Shen, C. Lowery, P. S. Martin, S. Subramanya, W. Gotz, N. F. Gardner, R. S. Kem, and S. A. Stockman, Appl. Phys. Lett. 78, 3379 (2001).
3. S. Baba, Proc. 47th Electron. Comp. & Tech. Conf., p. 268, IEEE, San Jose, USA (1997).
4. W. S. Lee, M. G. Park, I. W. Cho, S. C. Kim, K. Y. Kim, Q. H. Chung, and K. Y. Byun, Proc. 58 th Electron. Comp. & Tech. Conf., p. 1776, IEEE, Orlando, USA (2008).
5. S. J. Wang and C. Y. Liu, J. Mater. Res. 19, 2536 (2004).