JTAG Security Threats: Current Attacks and Countermeasures
Author:
Affiliation:
1. Graduate School of Science and Engineering, Ehime University
Publisher
Japan Institute of Electronics Packaging
Subject
Electrical and Electronic Engineering
Link
https://www.jstage.jst.go.jp/article/jiep/24/7/24_668/_pdf
Reference18 articles.
1. 1) 亀山修一：“バウンダリスキャン技術講座 第9回バウンダリスキャン規格の適用拡大と最新動向，”エレクトロニクス実装学会誌，Vol. 24, No. 1, pp. 154–161, 2021
2. 2) E. Valea, M. Da Silva, G. Di Natale, M. Flottes, and B. Rouzeyre: "A Survey on Security Threats and Countermeasures in IEEE Test Standards," IEEE Design & Test, Vol. 36, No. 3, pp. 95–116, June 2019, doi: 10.1109/MDAT.2019.2899064
3. 3) ケネス・P．パーカー (著)，亀山修一 (監訳)：“バウンダリスキャンハンドブック，”青山社，2012年，第3版，ISBN978-4-88359-303-3
4. 4) B. Yang, K. Wu, and R. Karri: "Secure Scan: A Design-for-Test Architecture for Crypto Chips," IEEE Trans. Comput. Des. Integr. Circuits Syst., Vol. 25, No. 10, pp. 2287–2293, Oct. 2006, doi: 10.1109/TCAD.2005. 862745
5. 5) Open On-Chip Debugger: http://openocd.org/, accessed on 5 July 2021
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