A 16Gb 9.5Gb/S/pin LPDDR5X SDRAM With Low-Power Schemes Exploiting Dynamic Voltage-Frequency Scaling and Offset-Calibrated Readout Sense Amplifiers in a Fourth Generation 10nm DRAM Process

Author:

Kim Dae-Hyun1,Song Byungkyu1,Ahn Hyun-a1,Ko Woongjoon1,Do Sunggeun1,Cho Seokjin1,Kim Kihan1,Oh Seung-Hoon1,Joo Hye-Yoon1,Park Geuntae1,Jang Jin-Hun1,Kim Yong-Hun1,Lee Donghun1,Jung Jaehoon1,Kwon Yongmin1,Kim Youngjae1,Jung Jaewoo1,O Seongil1,Lee Seoulmin1,Lim Jaeseong1,Son Junho1,Min Jisu1,Do Haebin1,Yoon Jaejun1,Hwang Isak1,Park Jinsol1,Shim Hong1,Yoon Seryeong1,Choi Dongyeong1,Lee Jihoon1,Woo Soohan1,Hong Eunki1,Choi Junha1,Kim Jae-Sung1,Han Sangkeun1,Bang Jongmin1,Park Bokgue1,Kim Janghoo1,Choi Seouk-Kyu1,Han Gong-Heum1,Sung Yoo-Chang1,Bae Won-Il1,Lim Jeong-Don1,Lee Seungjae1,Yoo Changsik1,Hwang Sang Joon1,Lee Jooyoung1

Affiliation:

1. Samsung Electronics,Hwaseong,Korea

Publisher

IEEE

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