Rare-Failure Oriented STT-MRAM Technology Optimization
Author:
Publisher
IEEE
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http://xplorestaging.ieee.org/ielx7/8481640/8510617/08510637.pdf?arnumber=8510637
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1. Special Session: STT-MRAMs: Technology, Design and Test;2022 IEEE 40th VLSI Test Symposium (VTS);2022-04-25
2. STT-MRAM array performance improvement through optimization of Ion Beam Etch and MTJ for Last-Level Cache application;2021 IEEE International Memory Workshop (IMW);2021-05
3. Impact of Process Variability on Write Error Rate and Read Disturbance in STT-MRAM Devices;IEEE Transactions on Magnetics;2020-12
4. An Euler–Lagrange Equation Oriented Solution for Write Energy Minimization of STT-MRAM;IEEE Transactions on Electron Devices;2019-08
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