A Modular Scan Design Verification approach for Multi-channel Mode
Author:
Affiliation:
1. AMD India Pvt. Ltd,DFX-BGL,Bangalore,Karnataka,India,560066
2. Ramaiah Institute of Technology,E&C Department,Bangalore,Karnataka,India,560054
Publisher
IEEE
Link
http://xplorestaging.ieee.org/ielx7/10046417/10046432/10046574.pdf?arnumber=10046574
Reference10 articles.
1. IEEE Standard for Extensions to Standard Test Interface Language (STIL) (IEEE Std 1450-1999) for Test Flow Specification;IEEE Std 1450 4-2017,0
2. Reconfigurable scan architecture for test power and data volume reduction
3. Scan Test Planning for Power Reduction;imhof;Proc Design Automation Conf (DAC),2007
4. Test cost reduction through a reconfigurable scan architecture
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