Active Power Cycling of SiC Modules Extended by Long-Term Monitoring of After Test
Author:
Affiliation:
1. TRUMPF Huettinger,R&D Department,Zielonka,Poland
Publisher
IEEE
Link
http://xplorestaging.ieee.org/ielx8/10604287/10602793/10604341.pdf?arnumber=10604341
Reference16 articles.
1. Wide-Bandgap Power Devices: Adoption Gathers Momentum
2. Aging Mechanisms and Accelerated Lifetime Tests for SiC MOSFETs: An Overview
3. Active Power Cycling Test Bench for SiC Power MOSFETs—Principles, Design, and Implementation
4. Qualification of Power Modules for Use in Power Electronics Converter Units in Motor Vehicles;Harder;ECPE European Center for Power Electronics Std. AQG-324, Rev. 03.1/2021,2021
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