On the design of path delay fault testable combinational circuits
Author:
Publisher
IEEE Comput. Soc. Press
Link
http://xplorestaging.ieee.org/ielx2/292/2913/00089391.pdf?arnumber=89391
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1. Path delay fault testing of multiplexer-based shifters;International Journal of Electronics;2001-08
2. Path Delay Fault Testing of a Class of Circuit-Switched Multistage Interconnection Networks;Lecture Notes in Computer Science;1999
3. Testing with decision diagrams;Integration;1998-12
4. On local transformations and path delay fault testability;Journal of Electronic Testing;1995-12
5. Efficient multiple path propagating tests for delay faults;Journal of Electronic Testing;1995-12
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