A Multi-Objective Evolutionary Approach for Test Network Design
Author:
Affiliation:
1. DFKI GmbH,Cyber-Physical Systems,Bremen,Germany,28359
2. Automation GmbH,Siemens Electronic Design,Germany
3. University of Bremen,Germany
Publisher
IEEE
Link
http://xplorestaging.ieee.org/ielx8/10567048/10567052/10567670.pdf?arnumber=10567670
Reference23 articles.
1. IEEE standard for access and control of instrumentation embedded within a semiconductor device;IEEE Std. 1687-2014,2014
2. Access Time Analysis for IEEE P1687
3. Test Scheduling in an IEEE P1687 Environment with Resource and Power Constraints
4. Design automation for IEEE P1687
5. Design, Verification, and Application of IEEE 1687
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