Pinhole Defect Characterization and Fault Modeling for STT-MRAM Testing
Author:
Publisher
IEEE
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http://xplorestaging.ieee.org/ielx7/8784130/8791505/08791518.pdf?arnumber=8791518
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1. Uncovering Atomic Migrations Behind Magnetic Tunnel Junction Breakdown;ACS Nano;2024-08-20
2. MBIST-based weak bit screening method for embedded MRAM;2024 IEEE European Test Symposium (ETS);2024-05-20
3. Multi-Level Reference for Test Coverage Enhancement of Resistive-Based NVM;2024 IEEE 42nd VLSI Test Symposium (VTS);2024-04-22
4. A Compact Model of Perpendicular Spin-Transfer-Torque Magnetic Tunnel Junction;IEEE Transactions on Electron Devices;2024-01
5. Online Fault Detection and Diagnosis in RRAM;2023 IEEE European Test Symposium (ETS);2023-05-22
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