Pinhole Defect Characterization and Fault Modeling for STT-MRAM Testing

Author:

Wu Lizhou,Rao Siddharth,Medeiros Guilherme Cardoso,Taouil Mottaqiallah,Marinissen Erik Jan,Yasin Farrukh,Couet Sebastien,Hamdioui Said,Kar Gouri Sankar

Publisher

IEEE

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1. Uncovering Atomic Migrations Behind Magnetic Tunnel Junction Breakdown;ACS Nano;2024-08-20

2. MBIST-based weak bit screening method for embedded MRAM;2024 IEEE European Test Symposium (ETS);2024-05-20

3. Multi-Level Reference for Test Coverage Enhancement of Resistive-Based NVM;2024 IEEE 42nd VLSI Test Symposium (VTS);2024-04-22

4. A Compact Model of Perpendicular Spin-Transfer-Torque Magnetic Tunnel Junction;IEEE Transactions on Electron Devices;2024-01

5. Online Fault Detection and Diagnosis in RRAM;2023 IEEE European Test Symposium (ETS);2023-05-22

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