基于频率调制与分振幅解调的广义光谱椭偏技术-Reference-Cited by-同舟云学术

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基于频率调制与分振幅解调的广义光谱椭偏技术

Published:2024 Issue:4 Volume:53 Page:0430004
ISSN:1004-4213
Container-title:ACTA PHOTONICA SINICA
language:en
Short-container-title:光子学报

Author:

DENG Zhongxun 邓仲勋,QUAN Naicheng 权乃承,LI Siyuan 李思远,ZHANG Chunmin 张淳民

Publisher

Shanghai Institute of Optics and Fine Mechanics

Reference12 articles.

1. The calculation of thin film parameters from the spectroscopic ellipsometry data;G E JELLISON;Thin Solid Films,1996

2. Optical characterization of multilayer thin films using the surface plasmon Resonance method: a six phase model based on the krestchmann formalism;D ROY;Optics Communications,2001

3. Stokes-vector and Mueller-matrix polarimetry;R M AZZA;Journal of the Optical Society of America A,2016

4. Spectroscopic ellipsometry—Past, present, and future;D E ASPNES;Thin Solid Films,2014

5. On-line monitoring of solar cell module production by ellipsometry technique;M FRIED;Thin Solid Films,2014

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