1. 1. N. Matsumura, N. Sugie, K. Goto, K. Fujiwara and Y. Yamaguchi, H. Tanizaki, K. Nakano and T. Fujiwara, S. Wakamizu, H. Takeguchi, H. Arima, H. Kyoda, K. Yoshihara and J. Kitano, Proc. SPIE, 2008, 6923, 69230D (2008).
2. 2. K. Ohmori, T. Ando, T. Takayama, K. Ishizuka, M. Yoshida, Y. Utsumi, K. Endo, T. Iwai. Proc. SPIE, 6153, 61531X (2006).
3. Surface Property Control for 193nm Immersion Resist
4. 4. D. P. Sanders, L. K. Sundberg, R. Sooriyakumaran, P. J. Brock, R. A. Dipietro, H. D. Truong, D. C. Miller, M . C. Lawson, R. D. Allen, Proc. SPIE, 6519, 651904 (2007).