1. 1. H. French, and H. V. Tran, Annual Review of Materials Research, 39 (2009) 93-126.
2. 2. M. Hori, T. Nagai, A. Nakamura, T. Abe, G. Wakamatsu, T. Kakizawa, Y. Anno, M. Sugiura, S. Kusumoto, Y. Yamaguchi, and T. Shimokawa, Proc. of SPIE, 6923 (2008) 69230H-69238.
3. 3. L. Saul, J. Kane, C. G. Willson, B. Jeffrey, Z. Paul, and J. T. Nicholas, J. Micro/Nanolith. MEMS MOEMS, 8 (2009) 011011.
4. 4. J. B. Adam, G. Xinyu, O. C. Naphtali, J. Steffen, N. Tomoki, O. Toshiyuki, Z. Paul, J. R. Bryan, A. Elizabeth, B. Travis, G. Jose, J. T. Nicholas, and C. G. Willson, Proc. of SPIE, 7273 (2009) 72731B.
5. 5. X. Gu, A.J. Berro, Y. Cho, K. Jen, S. Lee, T. Ngai, T. Ogata, W.J. Durand, A. Sundaresan, J. R. Lancaster, S. Jockusch, P. Zimmerman, N. J. Turro, and C.G. Willson, Proc. of SPIE, 7273 (2009) 72731C.