1. 1. H. Kinoshita, R. Kaneko, K. Takei, N. Takeuchi, and S. Ishihara, 47th Autumn Meeting of the Japan Society of Applied Physics, 28-ZF-15 (1986) 322.
2. 2. H. Meiling, H. Meijer, V. Banine, R. Moors, R. Groeneveld, H.-J. Voorma, U. Mickan, B. Wolschrijn, B. Mertens, G. van Baars, P. Kürz, and N. Harned, Proc. SPIE, 6151 (2006) 615108.
3. 3. A. Veloso, S. Demuynck, M. Ercken, A. M. Goethals, S. Locorotondo, F. Lazzarino, E. Altamirano, C. Huffman, A. De Keersgieter, S. Brus, M. Demand, H. Struyf, J. De Backer, J. Hermans, C. Delvaux, B. Baudemprez, T. Vandeweyer, F. Van Roey, C. Baerts, D. Goossens, H. Dekkers, P. Ong, N. Heylen, K. Kellens, H. Volders, A. Hikavyy, C. Vrancken, M. Rakowski, S. Verhaegen, M. Dusa, L. Romijn, C. Pigneret, A. Van Dijk, R. Schreutelkamp, A. Cockburn, V. Gravey, H. Meiling, B. Hultermans, S. Lok, K. Shah, R. Rajagopalan, J. Gelatos, O. Richard, H. Bender, G. Vandenberghe, G. P. Beyer, P. Absil, T. Hoffmann, K. Ronse, and S. Biesemans, IEDM Tech. Dig., (2008) 861.
4. 4. A. Veloso, S. Demuynck, M. Erckenal A. M. Goethals, S. Locorotondo, F. Lazzarino, E. Altamirano, C. Huffman, A. De Keersgieter, S. Brus, M. Demand, H. Struyf, J. De Backer, J. Hermans, C. Delvaux, B. Baudemprez, T. Vandeweyer, F. Van Roey, C. Baerts, D. Goossens, H. Dekkers, P. Ong, N. Heylen, K. Kellens, H. Volders, A. Hikavyy, C. Vrancken, M. Rakowski, S. Verhaegen, M. Dusa, L. Romijn, C. Pigneret, A. Van Dijk, R. Schreutelkamp, A. Cockburn, V. Gravey, H. Meiling, B. Hultermans, S. Lok, K. Shah, R. Rajagopalan, J. Gelatos, O. Richard, H. Bender, G. Vandenberghe, G. P. Beyer, P. Absil, T. Hoffmann, K. Ronse, and S. Biesemans, IEDM Tech. Dig., (2009) 301.
5. 5. C. Wagner, J. Bacelar, N. Harned, E. Loopstra, S. Hendriks, I. de Jong, P. Kuerz, L. Levasier, M. van de Kerkhof, M. Lowisch, H. Meiling, D. Ockwell, R. Peeters, E. van Setten, J. Stoeldraijer, S. Young, J. Zimmerman, and R. Kool, Proc. SPIE, 7969 (2011) 79691F.