1. B. U. Yoon, S. Kondo, S. Tokitoh, A. Namiki, K. Misawa, K. Inukai, N. Ohashi, and N. Kobayashi , inProceedings of IITC 2004, p.13.3 (2004).
2. M. Kodera, S. Uekusa, H. Nagano, K. Tokushige, S. Shima, A. Fukunaga, Y. Mochizuki, H. Hiyama, and M. Tsujimura , Abstract 914, The Electrochemical Society Meeting Abstracts, Vol. 2004-2, Honolulu, HI, Oct 3–8, 2004.
3. M. R. Baklanov, Q. T. Le, E. Kesters, F. Iacopi, J. Van Aelst, H. Struyf, W. Boullart, S. Vanhaelemeersch, and K. Maex , inProceedings of IITC 2004, p. 10.1 (2004).
4. S. Kondo, B. U. Yoon, S. G. Lee, S. Tokitoh, K. Misawa, T. Yoshie, N. Ohashi, and N. Kobayashi , inVLSI Technical Digest, p. 68 (2004).