1. Mistry K. Allen C. Auth C. Beattie B. Bergstrom D. Bost M. Brazier M. Buehler M. Cappellani A. Chau R. Choi C. H. Ding G. Fischer K. Ghani T. Grover R. Han W. Hanken D. Hattendorf M. He J. Hicks J. Huessner R. Ingerly D. Jain P. James R. Jong L. Joshi S. Kenyon C. Kuhn K. Lee K. Liu H. Maiz J. McIntyre B. Moon P. Neirynck J. Pae S. Parker C. Parsons D. Prasad C. Pipes L. Prince M. Ranade P. Reynolds T. Sandford J. Shifren L. Sebastian J. Seiple J. Simon D. Sivakumar S. Smith P. Thomas C. Troeger T. Vandervoorn P. Williams S. Zawadzki K. , presented at the IEEE International Electron Devices Meeting, 2007, p. 247.
2. Jan C. H. Bhattacharya U. Brain R. Choi S. J. Curello G. Gupta G. Hafez W. Jang M. Kang M. Komeyli K. Leo T. Nidhi N. Pan L. Park J. Phoa K. Rahman A. Staus C. Tashiro H. Tsai C. Vandervoorn P. Yang L. Yeh J. Y. Bai P. , presented at the IEEE International Electron Devices Meeting, 2012, p. 3.1.1.
3. Semiconductor nanowire devices
4. Shin S. H. Masuduzzaman M. Gu J. J. Wahab M. A. Conrad N. Si M. Ye P. D. Alam M. A. , presented at the 2013 IEEE International Electron Devices Meeting, 2013, p. 7.5.1–7.5.4.
5. Atomic Layer Deposition: An Overview