Comparative study of CF4- and CHF3-based plasmas for dry etching applications

Author:

Efremov A.1,Kwon K.-H.2,Morgunov A.1,Shabadarova D.1

Affiliation:

1. State Univ. of Chemistry and Technology (Russian Federation)

2. Korea Univ. (Korea, Republic of)

Publisher

SPIE

Reference22 articles.

1. Rossnagel, S. M, Cuomo., J. J. and Westwood, W. D. (Eds.). [Handbook of plasma processing technology], Noyes Publications, Park Ridge, 256-260 (1990).

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3. Roosmalen, A. J., Baggerman, J. A. G. and Brader, S. J. H. [Dry etching for VLSI], Plenum Press, New-York, 210-221 (1991).

4. Wolf, S. and Tauber, R. N. [Silicon Processing for the VLSI Era. Volume 1. Process Technology], Lattice Press, New York, 180-192 (2000).

5. Experimental study and global model of inductively coupled CF4∕O2 discharges

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