Rapid Thermal Annealing And Solid Phase Epitaxy Of Ion Implanted InP

Author:

Bahir G.1,Merz J. L.1,Abelson J. R.2,Sigmon T. W.2

Affiliation:

1. University of California (United States)

2. Stanford University (United States)

Publisher

SPIE

Cited by 7 articles. 订阅此论文施引文献 订阅此论文施引文献,注册后可以免费订阅5篇论文的施引文献,订阅后可以查看论文全部施引文献

1. Semiconductor lasers for planar integrated optoelectronics;Solid-State Electronics;2000-01

2. In situ defect studies on Si+implanted InP;Journal of Physics D: Applied Physics;1990-07-14

3. Retardation of implantation damage annealing in InP due to local nonstoichiometry;Journal of Applied Physics;1990-02-15

4. Iron redistribution and compensation mechanisms in semi‐insulating Si‐implanted InP;Journal of Applied Physics;1989-02

5. Electrochemical Profiling of Ion‐Implanted InP;Journal of The Electrochemical Society;1987-09-01

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