Effect of lithium on the electrical properties of grain boundaries in silicon

Author:

Young R. T.,Lu M. C.,Westbrook R. D.,Jellison G. E.

Publisher

AIP Publishing

Subject

Physics and Astronomy (miscellaneous)

Cited by 20 articles. 订阅此论文施引文献 订阅此论文施引文献,注册后可以免费订阅5篇论文的施引文献,订阅后可以查看论文全部施引文献

1. Electrical Properties;Polycrystalline Silicon for Integrated Circuits and Displays;1998

2. Passivation of Deep Levels by Hydrogen;Hydrogen in Crystalline Semiconductors;1992

3. Control of the performance of polysilicon thin-film transistor by high-gate-voltage stress;IEEE Electron Device Letters;1991-12

4. Chapter 5 Neutralization of Deep Levels in Silicon;Semiconductors and Semimetals;1991

5. Physical limitations of polycrystalline thin film photoelectric devices;Thin Solid Films;1990-09

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