Nanoscale Characterization of Silicon-On-Insulator Nanowires by Multimode Scanning Probe Microscopy
Author:
Affiliation:
1. University of Tsukuba
2. National Inst. of Advanced Industrial Science and Technology
Publisher
The Materials Research Society of Japan
Link
https://www.jstage.jst.go.jp/article/tmrsj/38/2/38_265/_pdf
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