Trends bei der Entwicklung von Normalen für die Mikro- und Nanomesstechnik: Herausforderungen und Lösungsansätze (Trends in Development of Standards for Micro- and Nanometrology: Chances and Challenges)

Author:

Weckenmann Albert,Wiedenhöfer Thomas,Büttgenbach Stephanus,Krah Thomas,Fleischer Jürgen,Buchholz Ivesa,Viering Benjamin,Kranzmann Axel,Ritter Martin,Krüger-Sehm Rolf,Bakucz Peter,Schmitt Robert,Koerfer Friedel

Abstract

Im Bereich der Mikrometer- und Nanometer-Messtechnik werden immer neue Normale benötigt und bereitgestellt. Bei deren Design, Herstellung und Einsatz werden zum Teil neue Wege beschritten, um den Anforderungen und Randbedingungen der Mikro- und Nanotechnik gerecht zu werden. Im Folgenden werden diese Aspekte und Entwicklungen anhand ausgewählter Beispiele verdeutlicht.

Publisher

Walter de Gruyter GmbH

Subject

Electrical and Electronic Engineering,Instrumentation

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1. Analysis of dimensional accuracy for micro-milled areal material measures with kinematic simulation;The International Journal of Advanced Manufacturing Technology;2021-07-16

2. A model-based approach for the calibration and traceability of the angle resolved scattering light sensor;Surface Topography: Metrology and Properties;2016-04-19

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