Author:
Weckenmann Albert,Wiedenhöfer Thomas,Büttgenbach Stephanus,Krah Thomas,Fleischer Jürgen,Buchholz Ivesa,Viering Benjamin,Kranzmann Axel,Ritter Martin,Krüger-Sehm Rolf,Bakucz Peter,Schmitt Robert,Koerfer Friedel
Abstract
Im Bereich der Mikrometer- und Nanometer-Messtechnik werden immer neue Normale benötigt und bereitgestellt. Bei deren Design, Herstellung und Einsatz werden zum Teil neue Wege beschritten, um den Anforderungen und Randbedingungen der Mikro- und Nanotechnik gerecht zu werden. Im Folgenden werden diese Aspekte und Entwicklungen anhand ausgewählter Beispiele verdeutlicht.
Subject
Electrical and Electronic Engineering,Instrumentation
Cited by
2 articles.
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