1. Фортинский, Ю. К. Создание подсистемы верификации сложных цифровых микросхем с учетом радиационного воздействия : монография / Ю. К. Фортинский, В. К. Зольников, М. В. Конарев. – Воронеж : Воронежский государственный университет, 2011.- 207 с., Fortinskiy, Yu. K. Sozdanie podsistemy verifikacii slozhnyh cifrovyh mikroshem s uchetom radiacionnogo vozdeystviya : monografiya / Yu. K. Fortinskiy, V. K. Zol'nikov, M. V. Konarev. – Voronezh : Voronezhskiy gosudarstvennyy universitet, 2011.- 207 s.
2. Achkasov, V. N. Controlling means of development electronic component basis : monography / V. N. Achkasov, V. K. Zolnicov, T. P. Belyaeva. – Science Book Publishing House, Lorman, MS, USA, 2012. – 130 p., Achkasov, V. N. Controlling means of development electronic component basis : monography / V. N. Achkasov, V. K. Zolnicov, T. P. Belyaeva. – Science Book Publishing House, Lorman, MS, USA, 2012. – 130 p.
3. Моделирование ионизационных эффектов и эффектов смещения в цифровых микросхемах для САПР / В. К. Зольников, В. В. Лавлинский, Ю. А. Чевычелов, Ю. С. Сербулов, В. И. Анциферова, В. Н. Ачкасов, Ю. Г. Табаков // Лесотехнический журнал. – 2014. – Т. 4, № 4 (16). – С. 280-291., Modelirovanie ionizacionnyh effektov i effektov smescheniya v cifrovyh mikroshemah dlya SAPR / V. K. Zol'nikov, V. V. Lavlinskiy, Yu. A. Chevychelov, Yu. S. Serbulov, V. I. Anciferova, V. N. Achkasov, Yu. G. Tabakov // Lesotehnicheskiy zhurnal. – 2014. – T. 4, № 4 (16). – S. 280-291.
4. Методы схемотехнического моделирования КМОП СБИС с учетом радиации / К. В. Зольников, В. А. Скляр, В. И. Анциферова, С. А. Евдокимова // Вопросы атомной науки и техники. Серия: Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру. – 2014. – № 2. – С. 5-9., Metody shemotehnicheskogo modelirovaniya KMOP SBIS s uchetom radiacii / K. V. Zol'nikov, V. A. Sklyar, V. I. Anciferova, S. A. Evdokimova // Voprosy atomnoy nauki i tehniki. Seriya: Fizika radiacionnogo vozdeystviya na radioelektronnuyu apparaturu. – 2014. – № 2. – S. 5-9.
5. Метод и алгоритм поиска дефектов для радиационно-стойких микросхем / К. В. Зольников, В. А. Скляр, В. П. Крюков, А. В. Ачкасов, В. И. Анциферова, С. А. Евдокимова // Вопросы атомной науки и техники. Серия: Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру. – 2014. – № 2. – С. 10-13., Metod i algoritm poiska defektov dlya radiacionno-stoykih mikroshem / K. V. Zol'nikov, V. A. Sklyar, V. P. Kryukov, A. V. Achkasov, V. I. Anciferova, S. A. Evdokimova // Voprosy atomnoy nauki i tehniki. Seriya: Fizika radiacionnogo vozdeystviya na radioelektronnuyu apparaturu. – 2014. – № 2. – S. 10-13.