Modelling of ionization effects and the effects of displacement in digital chips for CAD-Reference-Cited by-同舟云学术

Modelling of ionization effects and the effects of displacement in digital chips for CAD

Published:2015-01-15 Issue:4 Volume:4 Page:280-290
ISSN:2222-7962
Container-title:Forestry Engineering Journal
language:en
Short-container-title:

Author:

Ачкасов ,Achkasov V.,Чевычелов ,Chevychelov Yu.,Анциферова ,Antsiferova V.,Лавлинский ,Lavlinskiy V.,Зольников ,Zolnikov Vladimir,Сербулов ,Serbulov Yuriy,Табаков ,Tabakov Yu.

Abstract

The methods of design of digital fault-tolerant bipolar integrated circuits to exposure to radiations such as gamma, x-ray and neutron radiation are considered, as well as the impact of the neutron pulse, which af-fect largely on the gain of the transistor. The operating mode of integrated circuits with change in the ini-tial values of voltages, as well as currents of the emitter and of the base is presented. Numerical calcula-tions of the ionization current in the base-collector junction are considered which allow pre-calculate dose rate of gamma, x-ray and neutron radiation.

Publisher

Voronezh State University of Forestry and Technologies named after G.F. Morozov

Reference8 articles.

1. Зольников, В. К. Проектирование сбоеустойчивых микросхем [Текст] / В. К. Зольников, А. И. Яньков, В. А. Смерек, А. В. Ачкасов, Н. А. Орликовский, Д. М. Уткин // Актуальные направления научных исследований XXI века: теория и практика. – 2013. – № 5 (5). – С. 217-222., Zol´nikov, V. K. Proektirovanie sboeustoychivykh mikroskhem [Tekst] / V. K. Zol´nikov, A. I. Yan´kov, V. A. Smerek, A. V. Achkasov, N. A. Orlikovskiy, D. M. Utkin. Aktual´nye napravleniya nauchnykh issledovaniy XXI veka: teoriya i praktika. – 2013. – № 5 (5). – S. 217-222.

2. Уткин, Д. М. Проблемно-ориентированное программное обеспечение для расчета показателей надежности сложных блоков программно-технических комплексов и его интеграция в сапр сквозного проектирования [Текст] / Д. М. Уткин, В. К. Зольников // Моделирование систем и процессов. – 2013. – № 3. – С. 48-51., Utkin, D. M. Problemno-orientirovannoe programmnoe obespechenie dlya rascheta pokazateley nadezhnosti slozhnykh blokov programmno-tekhnicheskikh kompleksov i ego integratsiya v sapr skvoznogo proektirovaniya [Tekst] / D. M. Utkin, V. K. Zol´nikov. Modelirovanie sistem i protsessov. – 2013. – № 3. – S. 48-51.

3. Лавлинский, В. В. Синтез виртуальной реальности при проектировании информационных объектов в условиях нечеткого представления контролируемых параметров [Текст] / В. В. Лавлинский, Е. Е. Обручникова, Ю. С. Сербулов // Моделирование систем и процессов. – 2011. – № 3. – С. 37-44., Lavlinskiy, V. V. Sintez virtual´noy real´nosti pri proektirovanii informatsionnykh ob´´ektov v usloviyakh nechetkogo predstavleniya kontroliruemykh parametrov [Tekst] / V. V. Lavlinskiy, E. E. Obruchnikova, Yu. S. Serbulov. Modelirovanie sistem i protsessov. – 2011. – № 3. – S. 37-44.

4. Чевычелов, Ю. А. Методы определения стойкости кмоп-компонентов при проектировании микросхем [Текст] / Ю. А. Чевычелов // Моделирование систем и процессов. – 2011. – № 3. – С. 68-71., Chevychelov, Yu. A. Metody opredeleniya stoykosti kmop-komponentov pri proektirovanii mikroskhem [Tekst] / Yu. A. Chevychelov. Modelirovanie sistem i protsessov. – 2011. – № 3. – S. 68-71.

5. Лавлинский, В. В. Исследование подходов для создания информационной составляющей при проектировании интеллектуального тренажера на основе сигналов коры головного мозга [Текст] / В. В. Лавлинский, Д. В. Бибиков, Р. Б. Буров, Ю. Г. Табаков // Моделирование систем и процессов. – 2012. – № 4. – С. 52-56., Lavlinskiy, V. V. Issledovanie podkhodov dlya sozdaniya informatsionnoy sostavlyayushchey pri proektirovanii intellektual´nogo trenazhera na osnove signalov kory golovnogo mozga [Tekst] / V. V. Lavlinskiy, D. V. Bibikov, R. B. Burov, Yu. G. Tabakov. Modelirovanie sistem i protsessov. – 2012. – № 4. – S. 52-56.

Cited by 24 articles. 订阅此论文施引文献订阅此论文施引文献，注册后可以免费订阅5篇论文的施引文献，订阅后可以查看论文全部施引文献

1. Circuit engineering methods for ensuring ECB resistance to the effects of heavy charged particles;Modeling of systems and processes;2022-01-08

2. METHODS FOR ENSURING THE STABILITY OF THE ELECTRONIC COMPONENT BASE IN TERMS OF REVERSIBLE SINGLE EVENTS;Modeling of systems and processes;2021-03-20

3. METHODS FOR ENSURING THE STABILITY OF THE ELECTRONIC COMPONENT BASE TO SINGLE EVENTS BY REDUNDANCY;Modeling of systems and processes;2021-03-20

4. A PHYSICAL MODEL FOR ESTIMATING THE INTENSITY OF SINGLE EVENTS WHEN EXPOSED TO INDIVIDUAL NUCLEAR PARTICLES;Modeling of systems and processes;2020-01-23

5. DETERMINATION OF STRUCTURES IN CHIPS THAT ARE SENSITIVE TO COSMIC PARTICLES;Modeling of systems and processes;2020-01-23