Holistic Variability Analysis in Resistive Switching Memories Using a Two-Dimensional Variability Coefficient

Author:

Acal Christian1,Maldonado David2,Aguilera Ana M.1,Zhu Kaichen34,Lanza Mario3ORCID,Roldán Juan Bautista2

Affiliation:

1. Departamento de Estadística e Investigación Operativa e Instituto de Matemáticas (IMAG), Universidad de Granada, Facultad de Ciencias, Avd. Fuentenueva s/n, 18071 Granada, Spain

2. Departamento de Electrónica y Tecnología de Computadores, Universidad de Granada, Facultad de Ciencias, Avd. Fuentenueva s/n, 18071 Granada, Spain

3. Physical Science and Engineering Division, King Abdullah University of Science and Technology (KAUST), Thuwal 23955-6900, Saudi Arabia

4. Department of Electronic and Biomedical Engineering, Universitat de Barcelona, Martí i Franquès 1, E-08028 Barcelona, Spain

Funder

European Regional Development Fund

King Abdullah University of Science and Technology

Consejería de Conocimiento, Investigación y Universidad, Junta de Andalucía

Instituto de Matemáticas de la Universidad de Granada, Universidad de Granada

Publisher

American Chemical Society (ACS)

Subject

General Materials Science

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