Mid-infrared Imaging Using Strain-Relaxed Ge1–xSnx Alloys Grown on 20 nm Ge Nanowires

Author:

Luo Lu1,Atalla Mahmoud R. M.1,Assali Simone1ORCID,Koelling Sebastian1,Daligou Gérard1,Moutanabbir Oussama1ORCID

Affiliation:

1. Department of Engineering Physics, École Polytechnique de Montréal, Montréal, C.P. 6079, Succ. Centre-Ville, Montréal, Québec H3C 3A7, Canada

Funder

Army Research Office

Canada Foundation for Innovation

Innovation for Defence Excellence and Security

Air Force Office of Scientific Research

Canada Research Chairs

Horizon 2020 Framework Programme

Natural Sciences and Engineering Research Council of Canada

Mitacs

PRIMA Quebec

Publisher

American Chemical Society (ACS)

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