Room Temperature Lasing in GeSn Microdisks Enabled by Strain Engineering

Author:

Buca Dan1,Bjelajac Andjelika2,Spirito Davide3,Concepción Omar1,Gromovyi Maksym2,Sakat Emilie2,Lafosse Xavier2,Ferlazzo Laurence2,von den Driesch Nils1,Ikonic Zoran4,Grützmacher Detlev1,Capellini Giovanni35,El Kurdi Moustafa2ORCID

Affiliation:

1. Institute of Semiconductor Nanoelectronics Peter Grünberg Institute 9 (PGI 9) and JARA‐Fundamentals of Future Information Technologies Forschungszentrum Juelich 52428 Juelich Germany

2. CNRS C2N Université Paris‐Saclay 10 boulevard Thomas Gobert Palaiseau 91120 France

3. IHP ‐ Leibniz‐Institut für innovative Mikroelektronik Im Technologiepark 25 15236 Frankfurt (Oder) Germany

4. Pollard Institute School of Electronic and Electrical Engineering University of Leeds Leeds LS2 9JT UK

5. Dipartimento di Scienze Università Roma Tre V.le G. Marconi 446 Rome I‐00146 Italy

Funder

Deutsche Forschungsgemeinschaft

Bundesministerium für Bildung und Forschung

Agence Nationale de la Recherche

Publisher

Wiley

Subject

Atomic and Molecular Physics, and Optics,Electronic, Optical and Magnetic Materials

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