Electronic Properties of Fully Strained La1–xSrxMnO3 Thin Films Grown by Molecular Beam Epitaxy (0.15 ≤ x ≤ 0.45)

Author:

Chaluvadi Sandeep Kumar1ORCID,Polewczyk Vincent1,Petrov Aleksandr Yu1,Vinai Giovanni1ORCID,Braglia Luca1ORCID,Diez Jose Manuel2,Pierron Victor3,Perna Paolo2ORCID,Mechin Laurence3ORCID,Torelli Piero1,Orgiani Pasquale1ORCID

Affiliation:

1. Istituto Officina dei Materiali (IOM)−CNR, Laboratorio TASC, Area Science Park, S.S.14, km 163.5, I-34149 Trieste, Italy

2. IMDEA-Nanociencia, Campus de Cantoblanco, 28049 Madrid, Spain

3. Normandie Univ, UNICAEN, ENSICAEN, CNRS, GREYC (UMR 6072), 14000 Caen, France

Funder

Comunidad de Madrid

Ministero dell?Istruzione, dell?Universit? e della Ricerca

Ministerio de Econom?a y Competitividad

Publisher

American Chemical Society (ACS)

Subject

General Chemical Engineering,General Chemistry

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