Beyond SiliconMOS: An Electrical Study on Interface and Gate Dielectrics withacAdmittance Techniques
Author:
Publisher
Wiley
Link
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/pdf/10.1002/9783527603978.mst0480
Reference68 articles.
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5. Trap density probing on top-gate MoS2nanosheet field-effect transistors by photo-excited charge collection spectroscopy
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