Neue Entwicklungen bei der Abbildung und Analyse von Festkörper-Oberflächen

Author:

Seiler Hellmut

Publisher

Wiley

Subject

Industrial and Manufacturing Engineering,General Chemical Engineering,General Chemistry

Reference76 articles.

1. A. Benninghoven 1

2. J. W. Mayer, A. Turos 19

3. T. E. Gallon, J. A. D. Matthew 3

4. C. C. Chang 25

5. K. Siegbahn

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1. Untersuchung von Heterogen-Katalysatoren mit modernen Oberflächen-Analysenmethoden;Chemie Ingenieur Technik;1982

2. Untersuchung dünner Schichten im Rasterelektronenmikroskop;Achtes Kolloquium über Metallkundliche Analyse mit Besonderer Berücksichtigung der Elektronenstrahl- und Ionenstrahl-Mikroanalyse Wien, 27. bis 29. Oktober 1976;1977

3. Monolagenanalyse an „schmutzigen”︁ Oberflächen?;Physik Journal;1976-08

4. Reinstmetallanalytik — aufgaben und probleme;Journal of the Less Common Metals;1975-11

5. Beobachtung von Elektronen-Channeling-Diagrammen im Augerelektronen-Spektrometer mit Rasterzusatz;Applied Physics;1975-03

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