Beobachtung von Elektronen-Channeling-Diagrammen im Augerelektronen-Spektrometer mit Rasterzusatz

Author:

Seiler H.,Kuhnle G.,Bauer H.

Publisher

Springer Science and Business Media LLC

Subject

General Materials Science,General Chemistry,General Engineering

Reference22 articles.

1. P.W. Palmberg, K.G. Bohn, J.C. Tracy: Appl. Phys. Letters15, 254 (1969)

2. H. Seiler, G. Kuhnle: Z. Angew. Phys.29, 254 (1970)

3. B.D. Grachev, A.P. Komar, Yu.S. Korobochko, V.J. Mineer: Soviet Phys.-JETP Letters4, 163 (1966)

4. T.W. Rusch, J.P. Bertino, W.P. Ellis: Appl. Phys. Letters23, 359 (1973)

5. G.R. Booker, A.M.B. Shaw, M.J. Whelan, P.B. Hirsch: Phil. Mag.16, 1185 (1967)

Cited by 2 articles. 订阅此论文施引文献 订阅此论文施引文献,注册后可以免费订阅5篇论文的施引文献,订阅后可以查看论文全部施引文献

1. Wechselwirkung Elektron-Materie;Raster-Elektronenmikroskopie;1977

2. Electron spectroscopy: x-ray and electron excitation;Analytical Chemistry;1976-04-01

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