Untersuchung dünner Schichten im Rasterelektronenmikroskop-Reference-Cited by-同舟云学术

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Untersuchung dünner Schichten im Rasterelektronenmikroskop

Published:1977 Issue: Volume: Page:171-184
ISSN:0076-8642
Container-title:Achtes Kolloquium über Metallkundliche Analyse mit Besonderer Berücksichtigung der Elektronenstrahl- und Ionenstrahl-Mikroanalyse Wien, 27. bis 29. Oktober 1976
language:
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Author:

Holm R.,Storp S.

Publisher

Springer Vienna

Link

http://link.springer.com/content/pdf/10.1007/978-3-7091-3724-6_11

Reference22 articles.

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Cited by 2 articles. 订阅此论文施引文献订阅此论文施引文献，注册后可以免费订阅5篇论文的施引文献，订阅后可以查看论文全部施引文献

1. Kombinierte Untersuchungen mit Elektronenstrahl-Mikroanalyse und Auger-Elektronenspektroskopie an der Phasengrenze Stahl und Email;Zehntes Kolloquium über metallkundliche Analyse;1981

2. Auger electron spectroscopy;Ultraviolet Photoelectron and Photoion Spectroscopy Auger Electron Spectroscopy Plasma Excitation in Spectrochemical Analysis;1979

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