Use of permanent marker to deposit a protection layer against FIB damage in TEM specimen preparation

Author:

PARK Y.C.1,PARK B.C.2,ROMANKOV S.3,PARK K.J.1,YOO J.H.1,LEE Y.B.1,YANG J.-M.1

Affiliation:

1. National Nanofab Center (NNFC); Daejeon South Korea

2. Korea Research Institute of Standards and Science (KRISS); Daejeon South Korea

3. Division of Advanced Materials Engineering; Chonbuk National University (CBNU); Jeonju South Korea

Funder

KRISS program

IT R&D program of the MKE/KEIT

Publisher

Wiley

Subject

Histology,Pathology and Forensic Medicine

同舟云学术

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