Lg = 60 nm In0.53 Ga0.47 As MBCFETs: From gm_max = 13.7 mS/üm and Q = 180 to virtual-source modeling

Author:

Yoo J.-H.1,Jo H.-B.1,Lee I.-G.1,Choi S.-M.1,Baek J.-M.1,Lee S T.2,Jang H.2,Kong M W.2,Kim H H.1,Lee H J.1,Kim H.-J.1,Jeong H.-S.1,Park W.-S.1,Ko D H.3,Shin S. H.4,Kwon H.-M.4,Kim S K.5,Kim J G.5,Yun J.5,Kim T.5,Shin K.-Y.6,Kim T.-W.6,Shin J.-K.1,Lee J.-H.1,Shin C.-S.2,Seo K.-S.2,Kim D.-H.1

Affiliation:

1. Kyungpook National University

2. Korea Advanced Nano Fab Center

3. Yonsei University

4. Korea Polytechnics

5. QSI

6. University of Ulsan

Funder

Samsung

Publisher

IEEE

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