In-depth concentration profiling of garnet epilayers using secondary ion mass spectrometry

Author:

Morgan A. E.,Werner H. W.,Gourgout J. M.

Publisher

Springer Science and Business Media LLC

Subject

General Materials Science,General Chemistry,General Engineering

Reference5 articles.

1. H.D.Jonker, A.E.Morgan, H.W.Werner: J. Crystal Growth31, 387 (1975)

2. H.W.Werner, A.E.Morgan: J. Appl. Phys.47, 1232 (1976)

3. J.M.Rouberol, J.Guernet, P.Deschamps, J.P.Dagnot, J.M.Guyon de la Berge: Proc. 5th Int. Conf. X-Ray Optics and Microanalysis, Tübingen 1968 (Springer-Verlag, Berlin, Heidelberg, New York 1969) p. 311

4. W.Tolksdorf, G.Bartels, G.P.Espinosa, P.Holst, D.Mateika, F.Welz: J. Crystal Growth17, 322 (1972)

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