Secondary ion mass spectrometry of compositional changes in garnet films

Author:

Jonker H.D.,Morgan A.E.,Werner H.W.

Publisher

Elsevier BV

Subject

Materials Chemistry,Inorganic Chemistry,Condensed Matter Physics

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2. Diagnostic Techniques;Microelectronic Materials and Processes;1989

3. YIG film characterization for MSW devices;Circuits, Systems, and Signal Processing;1985-03

4. Analytical assistance in semiconductor and electronic material technology;Fresenius' Zeitschrift für analytische Chemie;1983-01

5. Interface analysis of high insulating garnet materials using secondary ion mass spectrometry;Surface and Interface Analysis;1982-02

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