Latchup in CMOS Technology
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Springer US
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http://link.springer.com/content/pdf/10.1007/978-1-4757-1887-4.pdf
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1. Latchup Risk in a 4H-SiC Process;IEEE Transactions on Electron Devices;2024-05
2. Modern Complementary Metal-Oxide–Semiconductor (CMOS) Technology;Integrated Circuit Fabrication;2023-11-16
3. A Generalized Methodology for Well Island Generation and Well-tap Insertion in Analog/Mixed-signal Layouts;ACM Transactions on Design Automation of Electronic Systems;2023-09-09
4. Overview on Latch-Up Prevention in CMOS Integrated Circuits by Circuit Solutions;IEEE Journal of the Electron Devices Society;2023
5. Physics and Electrical Diagnostics of Nanoelectronic Silicon-On-Insulator Structures and Devices;2023
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