1. 1) A. W. Gibson, S. L. Choi, K. N. Subramanian and T. R. Bieler: Proceedings of Design and Reliability of Solders and Solder Interconnects, ed. by R. K. Mahidhara, D. R. Frear, S. M. L. Sastry, K. L. Murty, P. K. Liaw and W. L. Winterbottom (TMS, Warrendale, PA, USA, 1997) pp. 97–103.
2. 2) S. L. Choi, A. W. Gibson, J. L. McDougall, T. R. Bieler and K. N. Subramanian: Proceedings of Design and Reliability of Solders and Solder Interconnects, ed. by R. K. Mahidhara, D. R. Frear, S. M. L. Sastry, K. L. Murty, P. K. Liaw and W. L. Winterbottom, (TMS, Warrendale, PA, USA 1997) pp. 241–245.
3. 3) K. N. Subramanian, T. R. Bieler and J. P. Lucas: J. Electron. Mater. 28 (1999) 1176–1183.
4. 4) J. Sigelko, S. Choi, K. N. Subramanian, J. P. Lucas and T. R. Bieler: J. Electron. Mater. 28 (1999) 1184–1188.
5. 5) S. Choi, T. R. Bieler, J. P. Lucas and K. N. Subramanian: J. Electron. Mater. 28 (1999) 1209–1215.