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Automating control and evaluation of FPGA testing using SJ BIST®

  • Published:2008-09 Issue: Volume: Page:
  • ISSN:
  • Container-title:2008 IEEE AUTOTESTCON
  • language:
  • Short-container-title:

Author:

Hofmeister James P.,Mitchell Christopher

Publisher

IEEE

Cited by 1 articles. 订阅此论文施引文献 订阅此论文施引文献，注册后可以免费订阅5篇论文的施引文献，订阅后可以查看论文全部施引文献

1. Testing of FPGA Input/Output Pins Using BIST;Information and Communication Technology for Competitive Strategies (ICTCS 2020);2021
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